对于航空插头，在各个电器组件中的应用是比较广泛的。在实际使用中，经常会出现接头过热等情况。对于这种情况，我们归纳起来主要有以下几种原因：

　　一、连接器表面保护涂层失效，导致连接器接点发生腐蚀。

　　二、化学与电化学腐蚀：纯净金属在大气环境中，因其热力学不稳定性，都具有从高能状态向低能状态过度的趋势，因此金属在大气环境中发生腐蚀过程是一种自然规律。金属的腐蚀一般存在两种情况，即化学腐蚀和电化学腐蚀。由于化学腐蚀的速度极其缓慢，因此不会构成接头发热的主要因素。而电化学腐蚀系统自成回路，有腐蚀电流产生，使阳极不断离解，使腐蚀有可能不间断地进行下去，于是连接器接头面积会趋于减少，而不时过程中产生和积累的沉积膜以及阳极金属表面产生的钝化膜，会是连接器接头的接触电阻显著增大，使接头的温升显著提高，并产生恶性循环，成为接头发热的主要构成因素。

　　三、金属磨损：由于外力作用或金属本身的热胀冷缩以及负荷在高峰与低谷间的波动的冲击，会使连接器接头的接触点越来越少。其结果是航空插头接头接触面上被腐蚀的地方逐渐增多，因此接触电阻逐渐增大，接头处温升逐渐增高。

　　对航空插头失效品和正常品进行高温试验,高温冷却后的样品测试绝缘,分别和结果表明,故障产品含有一定量的水分在航空插头,与此同时,水的存在和高温会降低航空插头的绝缘电阻。

　　然后对航空插头故障产品拆卸实验,发现航空插头剩余内部绝缘组件有浅蓝色的腐蚀,光一层金属薄膜,失败航空插头之前和之后的拆迁封装胶绝缘电阻测试,结果表明,失败后拆卸航空插头的绝缘合格,并封装胶测试其绝缘电阻是正常的。

　　所有金属部件的航空插头EDS测试,结果表明,金属条的金属部件的表面镀银的铜锌合金,和其他金属部件没有铜锌银原料,浅蓝色的腐蚀,和迁移的银膜是金属与金属接触一条组件,所有组件的绝缘,红外分析结果表明,该绝缘组件分别有聚酯,硅胶,PVC(封装胶),分别对封装胶和正常封装脱胶商品用于离子色谱分析,结果表明,氯离子含量的失败产品包装胶是正常产品的1.8倍,潮湿环境中氯离子的存在会大大促进金属部件的腐蚀和离子导电路径的形成。